张银奎 Intel 前英特尔软件架构师,系统调试专家
微软全球最有(yǒu)价值技术专家(MVP),同济大學(xué)電(diàn)子与信息工程學(xué)院特邀讲师。 《软件调试》、《格蠹汇编》的作者,新(xīn)版《十万个為(wèi)什么》電(diàn)子分(fēn)册撰稿人之一,《程序员》杂志(zhì)调试之剑栏目作者 。
1996年毕业于上海交通大學(xué)信息与控制工程系,在软件产业工作20年,在多(duō)家跨國(guó)公司历任开发工程师、软件架构师、开发经理(lǐ)、项目经理(lǐ)等职務(wù),对 IA-32 架构、操作系统内核、驱动程序、虚拟化技术、云计算、软件调优、尤其是软件调试有(yǒu)较深入研究。
从2005年开始公开讲授“Windows内核及高级调试”课程,曾在微软的Webcast和各种技术会议上做过《Windows Vista内核演进》、《调试之剑》(全球软件案例研究峰会)、《感受和思考调试器的威力》(CSDN SD2.0大会)、《Windows启动过程》、《如何诊断和调试蓝屏错误》、《Windows體(tǐ)系结构——从操作系统的角度》等。
讲师认為(wèi)软件瑕疵是个永恒的难题,因此在这方面投入了很(hěn)多(duō)时间,探索出了一套以调试器為(wèi)核心的方法。与瑕疵和调试相关的另一个永恒难题就是软件的安全性。安全漏洞,可(kě)以说是一种特别的瑕疵。发现和研究安全漏洞离不开调试方法。因此花(huā)费大量时间研究软件安全和渗透测试。
翻译(合译)作品有(yǒu)《观止——微软创建NT和未来的夺命狂奔》、《数据挖掘原理(lǐ)》、《机器學(xué)习》、《人工智能(néng):复杂问题求解的结构和策略》等。
本培训紧密围绕软件瑕疵这一主题,从软件瑕疵的成本曲線(xiàn)讲起,基于在集成電(diàn)路领域广被认可(kě)的Design For Test(D4T)和Design For Debug(D4D)思想,系统介绍如何从产品的设计阶段就开始规划对抗软件瑕疵的基础设施,如何在产品编码和实现阶段利用(yòng)这些设施及早发现瑕疵,如何在测试阶段更快的降低瑕疵数量,以及如何在产品发布后及时发现和修复残留的瑕疵。
1、了解如何从产品的设计阶段就开始规划对抗软件瑕疵的基础设施。
2、如何在产品编码和实现阶段利用(yòng)这些设施及早发现瑕疵。
3、如何在测试阶段更快的降低瑕疵数量。
4、如何在产品发布后及时发现和修复残留的瑕疵。
软件团队的经理(lǐ),项目负责人,架构师,程序员,测试经理(lǐ),测试人员
Day1 Topic1 软件瑕疵概览
Topic2 软件瑕疵的成本曲線(xiàn)
Topic3 思考根本——目前方法难以解决的问题
Topic4 D4T和D4D
Day2 Topic5 可(kě)调试设计——设计阶段的最佳实践
Topic6 程序员强则软件强——开发阶段的最佳实践
Topic7 观止(Showstopper)——测试阶段的最佳实践
Topic8 自动诊断和遠(yuǎn)程报告——产品支持阶段的最佳实践
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